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15270896115電阻式膜厚計RST-231產品介紹
可以在短時間內測量絕緣材料上的金屬薄膜（銅箔、印刷電路板上的電鍍層等），并且雙面板和多層板不受背面或內層的影響。可選擇兩種測量范圍，可測量2-120μm的金屬涂層。
可在短時間內（0.7秒）高精度測量絕緣材料（銅箔、印刷電路板鍍層等）上的金屬膜。
屏幕大、明亮，使用電腦時易于查看。
易于校準和測量。可選擇兩個測量范圍（2 至 24 μm、10 至 120 μm）。
統(tǒng)計處理后，可以隨時立即查看直方圖、剖面圖和 xR 控制圖。
如果您設置膜厚度的上限和下限，則會通知您異常值。
可保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，并可設置統(tǒng)計項目，并可對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理。
您最多可以注冊 40 個頻道，因此您可以通過用戶名、部件號等單獨注冊頻道來管理頻道。
印刷線路板、
電子設備、電子零件
照明/電氣設備零件，NF/NC
| 型號（主機） | RST-231型 |
|---|---|
| 測量原理 | 4探頭電阻式 |
| 測量范圍 | 2~24μm, 10~120μm |
| 通道數(shù) | 40個頻道 |
| 數(shù)據(jù)容量 | 10萬條數(shù)據(jù) |
| 展示 | 取決于電腦顯示器屏幕 |
| 統(tǒng)計處理 | 最大值、最小值、平均值、標準差、直方圖、上下限值設置 |
| 電源 | AC100~240V，50/60Hz 10VA（主機） |
| 尺寸 | 280(寬)×230(深)×88(高)mm(機身) |
| 配件 | 4點探頭 KD-110 標準板 TCU-145 |
| 前端間距 | 探頭前端 | |
| KD-110 | 1毫米 | 0.1R *標準品 |
| KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
| KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
| KD-210 | 2毫米 | 0.1R |
| KD-220 | 2毫米 | 0.2R |
