在選擇TEKHNE露點儀時，TK-100和TE-660是兩個核心系列，分別針對不同的工業測量需求。以下是兩者的關鍵對比及選型建議：
| 對比維度 | TK-100系列 | TE-660系列 |
|---|---|---|
| 測量范圍 | -100°C ~ +20°C dp | -60°C ~ +20°C dp |
| 傳感器技術 | 陶瓷傳感器（xin技術） | 聚合物薄膜傳感器 |
| 核心優勢 | 超低露點測量（<-50°Cdp） | 快速響應、一體化設計 |
| 典型型號 | TK-100 NK-I（帶干燥室） | TE-660 NE（內置采樣系統） |
| 適用場景 | 半導體、空分裝置、超高純氣體 | 壓縮空氣、SF6檢測、工業流程監測 |
TK-100：
覆蓋-100°Cdp的干燥環境，適合超高純氣體（如半導體制造用氮氣）。
精度±2°Cdp，但在-50°Cdp以下表現更穩定（干燥室系統提升響應速度）。
TE-660：
下限為-60°Cdp，適合常規工業氣體（如壓縮空氣、SF6）。
相同精度（±2°Cdp），但在-20°Cdp以上響應更快（聚合物傳感器特性）。
TK-100：
陶瓷傳感器耐長期漂移（<0.5°Cdp/年），但初始響應較慢（需干燥室預熱）。
TE-660：
聚合物傳感器在15秒內可響應露點變化，適合快速巡檢。
TK-100 NK-I型：
超輕（0.8kg），AA電池供電（15小時續航），適合野外或無電源環境。
TE-660 NE型：
內置過濾器、流量計，無需外接預處理，但重量稍大（3.5kg）。
TE-660支持4-20mA/Modbus輸出，可集成到控制系統；TK-100專注便攜測量，無信號輸出功能。
需要測量-80°Cdp以下的超低露點（如半導體光刻氣體）。
長期穩定性優先（如空分裝置連續監測）。
場景需防爆（可選TK-100TR-EX型號）。
測量-60°Cdp以上（如壓縮空氣、塑料干燥機）。
要求快速響應（如SF6開關水分檢測）。
需要一體化設計，減少外接配件。
TK-100初始成本較高，但維護簡單（年換干燥劑）；
TE-660需定期更換過濾器（每6個月），但操作更便捷。
干燥選TK-100，常規工業選TE-660。
若預算有限且無需超低露點，TE-660HD分體式型號更經濟。
