日本ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX 100TA-F
引入利用我們的非破壞性分析技術的在線膜厚分析儀。
【特征】 ●可以進行在線膜厚分析 ●電源僅AC100V，節電裝置 ●可以根據應用自由定制 ●配備SDD檢測器，無需液氮或冷卻水 [應用示例] ●高性能成膜膜的在線膜厚分析 ●在線分析金屬葉 ●在線分析溶液和液體等。?
| 測量原理 | 能量色散X射線熒光分析方法 |
| 測量目標 | 電影 |
| 電源供應 | AC100V-240V |
| 安裝環境溫度 | 5-27℃ |
| 設備冷卻 | 水冷* 1 |
| X射線額定輸出 | 40kV，1.0mA，最大40（W） |
| 探測器 | SDD（硅漂移檢測器） |
| 計數電路 | DSP（數字信號處理器） |
| 測量頭尺寸 | 溫度：5至27°C 266（W）x 136（D）x 160（H）mm * 2 |
* 1：測量頭（內部）要進行水冷。
* 2：如有變更，恕不另行通知。
日本ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX 100TA-F
【特 徴】 ● インラインで膜厚の分析が可能 ● 電源はAC100Vのみ、省電力裝置 ● 用途に合わせて自在にカスタマイズ可能 ● SDD検出器搭載で液體窒素や冷卻水は不要 【応 用 例】 ● 高機能成膜フィルムのインライン膜厚分析 ● 金屬箔のインライン分析 ● 溶液?液體のインライン分析etc
| 測定原理 | エネルギー分散型蛍光X線分析法 |
| 測定対象 | フィルム |
| 電源 | AC100V-240V |
| 設置環境溫度 | 5-27℃ |
| 裝置冷卻 | 水冷式※1 |
| X線定格出力 | 40kV,1.0mA,最大40(W) |
| 検出器 | SDD（シリコンドリフトディテクタ） |
| 計數回路 | DSP（デジタルシグナルプロセッサ） |
| 測定ヘッド部寸法 | 溫度：5～27℃ 266(W)×136(D)×160(H)mm ※2 |
